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GUT-6000B桌上型数位IC测试仪

简要描述:

GUT-6000B桌上型数位IC测试仪
GUT-6000B是一款桌上型IC测试仪。鉴于使测试任务自动化,GUT-6000B包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智慧化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GUT-6000B更接近零维护,减少了使用者不必要的争议。测试器件达1800多种常见的TTL和COMS器件,真正在数位IC测试领域实现一个机型测量多种器件的解决方案。

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GUT-6000B桌上型数位IC测试仪

GUT-6000B桌上型数位IC测试仪

GUT-6000B是一款桌上型IC测试仪。鉴于使测试任务自动化,GUT-6000B包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智慧化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GUT-6000B更接近零维护,减少了使用者不必要的争议。测试器件达1800多种常见的TTL和COMS器件,真正在数位IC测试领域实现一个机型测量多种器件的解决方案。

特点:

l Loop 测试

l 自动搜寻IC 编号功能

l 开机自我侦测诊断功能

l 过载保护功能

l 可量测之IC 种类超过1800 种

l 54/74 系列TTL

l 4000 及4500 系列CMOS

l 最大可测Pin 数: 28 Pin

快速选型

型号测试档位测试电压测试时间测试管脚
GUT-6600A74/54/40/45、Drive2xxx2.5/3.0/3.3/5V0.6s14-24Pin
GUT-6000B74/54/40/45、Drive22.5/3.0/3.3/5V0.6s28-Pin



详细规格
测试范围

54/74 系列 TTL;4000 及 4500 系列 CMOS;DRIVE
量测种类

约 1800 种
测试电压

2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间

高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm,约 1.5 公斤




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