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Keithley SourceMeter 光仪器通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。*2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。*TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。
Keithley SourceMeter 光仪器
通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。
*2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。
*TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。
Keithley SourceMeter 光仪器
功能 | 优势 |
| 主动温度控制 | 防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化，导致出现信号重叠和串扰问题。 |
| 50W TEC 控制器 | 比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。 |
| 全数字 P-I-D 控制 | 提供更高的温度稳定性，并可通过简单的固件变化轻松升级。 |
| 适用于热控制环路的自动调谐功能 (2510-AT) | 无需反复试验即可确定 P、I 和 D 系数的较好组合。 |
| 宽温度设定值范围（–50°C 至 +225°C）以及高设定值分辨率 (±0.001°C) 和稳定性 (±0.005°C) | 能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。 |
| 兼容于多种温度传感器输入 — 热敏电阻、RTD 和 IC 传感器 | 适合常用于各类激光二极管模块的温度传感器类型。 |
| 交流欧姆测量功能 | 验证 TEC 器件的完整性。 |
| 适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测 | 消除引线电阻测量值误差，减少假故障或设备损坏的可能性。 |
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