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Keithley 6200/2182A 系列超低电阻配置

简要描述:

Keithley 6200/2182A 系列超低电阻配置
连接时,2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一台仪器一样运行。2182A/622X 组合是电阻测量、脉冲式 I-V 测量和微分电导测量的理想工具,比其他解决方案具有更显著的优势。

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Keithley 6200/2182A 系列超低电阻配置

Keithley 6200/2182A 系列超低电阻配置

连接时,2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一台仪器一样运行。2182A/622X 组合是电阻测量、脉冲式 I-V 测量和微分电导测量的理想工具,比其他解决方案具有更显著的优势。2182A/622X 组合也非常适合许多纳米技术应用,因为它测量电阻时可以不消耗被测器件 (DUT) 的太多功率,否则可能会导致结果无效,甚至损坏 DUT。

特点

优势

测量电阻范围为 10nΩ 至 100MΩ测量范围非常广,专门用于超低电阻测量,以检定高导电性材料、纳米材料和超导材料。
同步的电流脉冲源,测量时间短至 50μs限制元器件(如纳米器件和纳米材料)中的功耗,如果以非常低的功率电平进行测试,这些元器件很容易损坏。
增量模式电流反向、电阻测量技术通过消除热偏移影响以及将读数噪声降低到 30nV p-p 噪声(典型值),进行精确的超低电阻测量。可以对多个读数进行平均,以更大程度地降低噪声。
微分电导测量比其他电导测量技术的速度快十倍,噪声更小。无需平均多次扫描的结果,即可实现准确的测量。
纳伏表和电流源接口无缝配合在进行电导与电阻测量时,两台仪器可以像一台仪器一样运行。
增量、微分电导和脉冲模式产生最小的电流瞬变可以检定可易被电流尖峰损坏的设备。

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