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老化 ATE 系统高效高性能方案——IT-M3100D
  • 发布日期:2022-05-23      浏览次数:110
    • 制造业要实现高效大规模的自动化生产模式,在产线上需要使用可靠稳定且高效的 ATE测试系统,其中,老化测试系统是电子行业中非常常见的一种 ATE。不管是元件,部件,整机还是设备都需要进行老化测试,一方面可以预测产品的寿命,同时也可以促使隐藏于产品内部的各种潜在缺陷及早暴露,从而达到早期剔除失效产品的目的。 

      传统的老化方案是通过简易的电源模块给 DUT 提供稳定供电,由电阻箱进行拉载,这种方案尽管可以降低设备成本,企业也需要投入更多的成本用于老化室的散热。随着“碳达峰、碳中和"的相关发展政策落地,传统的老化方案还可能会导致企业耗电量过高。从性能方面来看,传统的老化方案在模块精度及速度、数据采样、数据远端访问、测试吞吐量、维护以及可扩展性方面都不够灵活,无法满足类似半导体芯片老化,轨道交通控制电源模块老化,汽车精密元器件以及车灯老化等待测物参数规格多、测试精度要求高的使用场景。 

      那么,如何搭建一套高性能又高效,兼具当下和未来需求扩展的老化系统呢?选择合适的老化测试仪器尤为关键。 

      1) 选用紧凑型、高功率密度的老化源或老化载,提升单机柜老化吞吐量 

      以 ITECH 最新双通道直流电源 IT-M3100D 为例,仅 1/2 1U 的标准体积内,两个通道可同时分别输出 400W 功率,单机柜内最多可集成 80 个通道。通道相互隔离,即便单个通道出现异常,不影响整体的老化运行。不仅如此,IT-M3100D 双通道之间支持串并联以轻松扩展老化电压和功率范围,系列单机可达 100V/10A/800W 或 30V/30A/800W 的单通道输出,满足用户不同规格产品老化需求。 

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      2) 选用具备同步功能的老化测试设备,提升批量老化参数设置效率 

      在批量的老化测试中,用户往往需要对数百个通道的老化仪器设置相同的老化参数。一般是通过软件对每个通道依次发送相同的设置指令实现,这种方式受限于通信时间,效率低。考虑到老化应用的一致性,IT-M3100D 系列特别内置多通道同步控制功能,开启该功能,可以将最多 8 台 M3100D(16CH)设备级联在一起。测试人员只需要对其中一台进行电压/电流的设置,其余通道自动复制,提升批量参数的设置效率。 

      3)选用具备通道级联功能的设备,可优化数百通道老化的通信接线 

      当老化的通道数高达上百通道时,通信连接将成为一个头疼的问题,因为每个通道需要引出一根通信电缆,密密麻麻的线缆会使得通信排查变得异常困难。为帮助工程师优化接线,IT-M3100D 系列通过通道级联功能, PC 只需要通过一根网线连接到其中一台电源,即可完成对 16 CH 的程控简化了通信接线。IT-M3100D 系列 支持 CANOPEN、LXI、SCPI 等多种通讯协议。五种选配卡实现即插即用功能,提供 RS 2 3 2 、C A N、LAN、GPIB、USB_TMC、USB_VCP、RS485、外部模拟量和 IO 等多种控制方式。 

       4)选用回馈式老化设备,节省电费成本 

      在老化系统集成中,采用回馈式的负载替代传统电阻箱,可以为企业节省一大笔电费支出。回馈式负载可以将从 DUT 吸收的能量逆变为交流电,供厂内其他用电负荷。目前针对老化应用,ITECH 提供从几百 W 到 MW 级的回馈设备,回馈效率高可达 95%(ITM3300/IT-M3800/IT8000)。 选择合适的老化仪器,不仅可以提升企业的老化效率,还可以提升系统稳定性和易操作性。IT-M3100D 系列双通道电源可广泛使用在半导体、智能电子产品、LEN、电源等行业,

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